Elektronmikroskopi og analyse for materialeforskning
Overordnede kursusmål
Kursets formål er at give de studerende en basal teoretisk forståelse for principperne bag elektronmikroskopi, især med hensyn til analyse af krystallinske materialer. Det vil derfor være essentielt at have kendskab til krystallografi og krystaldefekter fra tidligere. Dette kursus vil gøre de studerende i stand til at forstå og fortolke elektronmikroskopibilleder, diffraktionsmønstre og energy dispersive spektroskopi data fra både skannings- og transmissionselektronmikroskoper. Prøvetyper vil indbefatte metaller og legeringer.
Kurset anbefales til PhD studerende. Der benyttes aktiv indlæring.
See course description in English
Læringsmål
- Genkende nøglekomponenterne i elektronmikroskoper
- Beskrive vekselvirkningen mellem elektroner og fast stof og kende forskel på elastiske og ikke-elastiske vekselvirkninger
- Beskrive typer af elektronsignaler fra disse vekselvirkninger og principperne for detektion af forskellige signaler
- Fortolke energy dispersive spektroskopi (EDS) data
- Fortolke variationer i kontrast og intensitet i mikrostrukturbilleder taget med skanningelektronmikroskopi (SEM) og transmissionselektronmikroskopi (TEM)
- Analysere elektrondiffraktionseffekter og -mønstre fra både SEM og TEM
- Evaluere relevansen af tilgængelige elektronmikroskopiteknikker for et valgt projekt
- Formulere strategier for prøvepræparation, observation og analyse mhp et specifikt projekt
Kursusindhold
Dette kursus introducerer elektronmikroskopi som en metode til karakterisering af mikrostruktur, krystallografiske orienteringer og lokal kemi i metaller og legeringer. De studerende vil lære grundprincipperne bag transmissions- og skanningelektronmikroskoper, og hvordan billeder, diffraktionsmønstre og energy dispersive spektroskopi data optages og fortolkes. Desuden vil hver studerende blive involveret i praktisk brug af mindst en af elektronmikroskopiteknikkerne. Dette vil involvere diskussion og vejledning fra en DTU ansat.
Emner inkluderer:
• Nøglekomponenter i elektronmikroskoper
• Vekselvirkning mellem elektroner og fast stof
• Elektrondetektion for forskellige signaler og billeddannelse i TEM and SEM
• Forskellige typer af TEM kontrast (diffraktions-, masse-tykkelse- og fasekontrast)
• Billeddannende TEM teknikker (bright-field, dark-field, højopløsning)
• Spektroskopiske metoder
• Diffraktionsmønstre i TEM og SEM (EBSD)
• Prøvepræparation til TEM og SEM
Anbefalede forudsætninger
41658/41650/41659
Undervisningsform
Forelæsninger, gruppearbejde, praktisk erfaring
Fakultet
Pladsbegrænsning
Minimum 6, Maksimum: 12.
Vær opmærksom på, at dette enkeltfagskursus har et minimumskrav til antal deltagere. Derudover er der begrænsning på antallet af studiepladser. Er der for få tilmeldinger oprettes kurset ikke. Er der for mange tilmeldinger, vil der blive trukket lod om pladserne. Du får besked om, om du har fået tildelt en studieplads senest 8 dage før kursusstart.